第14回データ解析コンペ

今回のテーマは「欠陥検出」です。

6種類の表面生成モデルと欠陥（キズやシミなど）生成モデルによって生成された画像を用いて欠陥を含む画像を検出する問題で、ドイツのパターン認識学会で2007年に行われたコンペ DAGM 2007 Competition のデータです。

評価基準はAUC（ROC曲線の下の面積）です。